3月22日-24日,中国计算机自动测量与控制技术协会承办的“第30届测试与故障诊断技术研讨会”在武汉举办。yl23455永利首页欢迎您院长兰智高教授带队参加了此次研讨会。
“测试与故障诊断技术研讨会”已连续召开了29届,每年举办的学术年会,目的是总结一年来在试验与测试、预测与健康管理、故障与诊断等技术领域取得的重大科研成果,加强相关技术在国家重大工程中的推广应用。
会议分析国际国内测试与故障诊断前沿技术发展态势,研讨当前技术发展方向及面临的困难,以增强设计研发人员对技术发展趋势的了解,提高研制过程中的系统设计能力,提升装备的测试与故障诊断技术水平。共同促进测试与故障诊断技术在国防军工和民用领域的广泛应用,为测控技术的发展贡献力量。
大会主席,航天科工首席专家、研究员、协会主管领导陈斐教授代表理事会致辞。他介绍了测试故障诊断协会的发展历程,当前主要研究热点及遇到的机遇和挑战。
电子科技大学戴志坚教授,华中科技大学孙燕华教授,中国电子科技集团公司高级专家张海庆研究员,桂林电子科技大学许川佩教授,华中科技大学王健副研究员,中北大学刘文怡教授,北京航空航天大学饶静教授,北京环境特性研究所肖志河研究员等专家作特邀报告,他们结合自身的教学科研经历,阐述了传感器、无损检测、故障诊断与预测关键技术等方面的独到见解,引发在场各位学者的热烈讨论。
参会代表认为此次研讨会为测控故障诊断工作者创造了非常好的学习和交流平台。